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报告内容简介:
对于工业产品而言,经常遇到多个性能指标共同退化的现象。对多性能相依退化进行建模分析具有重要现实意义。实际中,多个性能退化间的相依性既可能源于产品本身健康状态的退化,也可能源于产品的外界使用环境。本研究围绕这一问题,提出一种多元Wiener过程模型。其中,我们为多个退化指标引入共同的随机时间尺度,以解释环境作用;同时假设多个退化指标包含一个共同的Wiener过程随机分量,以解释产品整体健康状态退化引起的相依性。针对这一模型,我们研究了基于EM算法的模型参数估计方法,提出基于桥抽样算法的可靠性计算方法。通过在某涂层退化数据上的应用和对比研究,证明所提方法的实际效果。
报告人简介:
翟庆庆,上海大学管理学院副教授,上海市青年东方学者,担任中国现场统计研究会可靠性工程分会副秘书长,中国优选法统筹法与经济数学研究会工业工程分会理事。2015年于北京航空航天大学系统工程专业获得博士学位。2015年至2017年,在新加坡国立大学工业系统工程与管理系担任research fellow. 主要研究兴趣包括退化统计模型、可靠性建模和博弈论。在Technometrics、IISE Transactions、ITII、EJOR、ITR、RESS等国际期刊上发表论文40余篇。